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不同類型缺陷的綜合控制應(yīng)與嚴(yán)重度評分法相結(jié)合。我們不應(yīng)該簡單地統(tǒng)計過程或產(chǎn)品中的缺陷數(shù)量，而應(yīng)該計算缺陷的嚴(yán)重程度得分，并將統(tǒng)計的缺陷轉(zhuǎn)換為測量的得分。

示例:

過去一個鑄件的重要缺陷是含有砂眼，產(chǎn)品質(zhì)量只能達(dá)到3σ級別。長期以來，質(zhì)量控制是以缺陷率控制圖為基礎(chǔ)的。現(xiàn)在質(zhì)量改進(jìn)后，產(chǎn)品質(zhì)量有了很大提高，達(dá)到了5σ的水平，鑄件砂眼比例已經(jīng)低于0.1%。因此，決定使用缺陷評分控制圖對各種產(chǎn)品缺陷進(jìn)行綜合控制。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

使用單值-范圍控制圖，每天選取100個鑄件為一組，計算該組鑄件的總?cè)毕莘謹(jǐn)?shù)作為樣本值。為了繪制控制圖，連續(xù)提取了25天。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

從上面的控制圖可以看出，每組鑄件的平均缺陷分?jǐn)?shù)為12.4分，單值圖UCL=25.92，平均極差圖UCL=16.61，平均極差圖UCL = 5.083。兩個畫面都在掌控之中。

在本例中，缺陷數(shù)控圖通過缺陷評分法成功轉(zhuǎn)化為測量控制圖。如果能進(jìn)一步給出分值的標(biāo)準(zhǔn)界限，就可以計算出過程能力指數(shù)，對過程能力進(jìn)行綜合評價。

二.接近零缺陷的控制圖

零缺陷是人類生產(chǎn)力目前無法真正達(dá)到的理想質(zhì)量狀態(tài)。當(dāng)缺陷率極低時，與大量無缺陷的產(chǎn)品相比，生產(chǎn)過程中只是偶爾存在少數(shù)缺陷，便稱為是“接近零缺陷過程”。6σ質(zhì)量管理的思想是實現(xiàn)方法零缺陷過程。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

使用缺陷數(shù)(包括不合格品數(shù)NP)的常規(guī)控制圖時，要求每個樣本的平均缺陷數(shù)NP≥1。在逼近零缺陷的過程中，如果NP較大，要求大量樣本是不現(xiàn)實的。實際上，當(dāng)NP=1時，常規(guī)缺陷數(shù)控制圖的應(yīng)用效果是比較差的，因為常規(guī)缺陷控制圖是基于正態(tài)近似的，當(dāng)NP=1時(即使n很大)效果很差。為此，當(dāng)NP=1時，傳統(tǒng)的計數(shù)控制圖需要改進(jìn)。一種方法是對原始離散數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)變換，使變換后的數(shù)據(jù)滿足正常要求。另一種方法是保持原始數(shù)據(jù)不變，調(diào)整控制限的設(shè)置方法。這里介紹的接近零缺陷控制圖就是NP=1時，用后一種方法做控制所繪制的控制圖。