ANOVA 方差分析:將因素對質(zhì)量特性的影響與誤差對質(zhì)量特性的影響加以區(qū)分并做出估計(jì),然后進(jìn)行比較,分析、推斷哪些因素或哪些因素間的交互作用對質(zhì)量特性有顯著影響。
Attribute Data 計(jì)數(shù)數(shù)據(jù):通過計(jì)數(shù)得到的不能連續(xù)取值的離散型數(shù)據(jù)。
Benchmarking 水平對比:將過程、產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量同公認(rèn)的處于領(lǐng)先地位的競爭者進(jìn)行比較,從而找到改進(jìn)機(jī)會(huì)或確定突破目標(biāo)。
Bottom Line 底線:賬面上的利潤,是產(chǎn)品/服務(wù)的銷售成本和費(fèi)用的函數(shù)。
Box-plot 箱線圖:同時(shí)展示每個(gè)子群分布特征的5個(gè)統(tǒng)計(jì)量的坐標(biāo)圖。
Business Culture 企業(yè)文化:區(qū)別于其他組織的價(jià)值、觀點(diǎn)、期望、準(zhǔn)則和行為。
Cause-Effect Diagram 因果圖:也稱“石川圖”、“魚刺圖”,是揭示質(zhì)量特性波動(dòng)與潛在原因的關(guān)系,即表達(dá)和分析因果關(guān)系的一種圖表。
Continuous Data 計(jì)量數(shù)據(jù):通過測量得到的可任意取值的連續(xù)型數(shù)據(jù)。
Continuous Improvement 持續(xù)改進(jìn):逐步的、永無止境的不斷改進(jìn)循環(huán)。
Control Chart控制圖:以統(tǒng)計(jì)推斷理論為基礎(chǔ),設(shè)置統(tǒng)計(jì)控制限,按時(shí)間坐標(biāo)顯示獨(dú)立測量值、平均值或其他統(tǒng)計(jì)值的折線圖。
COPQ(Cost Of Poor Quality)不良質(zhì)量成本損失:由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ(Critical to Quality)關(guān)鍵質(zhì)量特性:滿足關(guān)鍵的顧客要求或過程要求的產(chǎn)品或過程特性。
Defect 缺陷:不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE(Design of Experiment)試驗(yàn)設(shè)計(jì):析因?qū)嶒?yàn)和相應(yīng)的改進(jìn)方法。
FMEA(Failure Mode and Effects Analysis)失效模式與影響分析:用來分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過程由于失效導(dǎo)致風(fēng)險(xiǎn)的方法。
Histogram 直方圖:用寬度相同的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖形工具。Multi-Vari Chart 多變量圖:直觀地提供過程各影響因素之間的關(guān)系以及它們對過程輸出影響的坐標(biāo)圖。
Pareto Chart 排列圖:也稱帕累托圖,由一個(gè)橫坐標(biāo)、兩個(gè)縱坐標(biāo)、幾個(gè)按高低順序排列的矩形和一條累積百分比折線組成的分析圖表。
p-Value p值:偏離零假設(shè)的概率,是可能拒絕原假設(shè)而接受備擇假設(shè)的顯著性水平。
Regression Analysis 回歸分析:變量間關(guān)系的分析方法。
Run Chart 運(yùn)行圖:按時(shí)間坐標(biāo)顯示統(tǒng)計(jì)量的折線圖。
QFD(Quality Function Deployment)質(zhì)量功能展開:將顧客的語言轉(zhuǎn)換為企業(yè)內(nèi)部技術(shù)術(shù)語的工具。
Scatter Plot 散布圖:研究兩變量間相關(guān)性的圖形工具。
SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計(jì)過程控制:用控制圖監(jiān)控和改進(jìn)過程的方法。
Top Line 頂線:真實(shí)表達(dá)顧客對企業(yè)滿意的收入。
Z西格瑪水平:描述過程滿足顧客要求能力的參數(shù)。
Zst (Z Short Term) 短期西格瑪水平/過程短期能力。
Zlt (Z Long Term) 長期西格瑪水平/過程長期業(yè)績。
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